Алгоритм анализа облигаций Облигации играют важную роль в портфеле. В первую очередь, это ликвидный
Finvaa
15 октября 2021 в 3:26
Алгоритм анализа облигаций
Облигации играют важную роль в портфеле. В первую очередь, это ликвидный запас денег на случай снижения рынка акций. Во-вторых, это инструмент с понятной и стабильной доходностью в отличие от акций.
Когда рынок растет, можно увеличивать резерв из облигаций и покупать акции на минимум. Когда рынок падает, увеличивать покупки акций и сокращать облигационный резерв.
При инвестировании в облигации, прежде всего, нужно исходить из ключевой ставки ЦБ. Когда она низкая – покупать короткие облигации и наоборот. Если ставка низкая и растет, то длинные облигации с фиксированным купоном будут падать в цене.
Поэтому вы не сможете их выгодно продать, а срок погашения длинный. И, наоборот, когда ставки высокие и снижаются, то стоимость длинных облигаций будет повышаться, что только увеличивает вашу доходность.
Сейчас в России ставка растет и по мнению аналитиков будет продолжать расти.
Поэтому можно покупать короткие корпоративные облигации со сроком погашения до 1 года.
Для того, чтобы найти облигации и выбрать подходящие, нужен удобный сервис. Например раздел облигаций Смартлаб ( https://smart-lab.ru/bonds ). Там можно найти все облигации на рынке: ОФЗ, корпоративные, муниципальные.
Анализ можно проводить по следующим параметрам:
1.Ликвидность облигации
2. Купоны
3. Исключение риска досрочного погашения
4. Анализ отчетности компании
5. Анализ кредитного рейтинга облигации
6. Анализ налоговых проверок, долгов по исполнительным производствам
1 – Ликвидность (объем торгов) должна быть достаточной, чтобы можно было купить облигацию в необходимом количестве. Это можно посмотреть в той же таблице на Смартлаб или в стакане на бирже.
2 – Купоны желательно выбирать постоянные, чтобы точно знать, какую доходность вы получите. Также смотрим на Смартлаб в карточке облигации.
3 – Программа облигаций может предусматривать досрочное погашение облигации по номиналу по усмотрению эмитента.
СмартЛаб Студия II | Международный веб-сайт Rigaku
Измерительный пакет, созданный экспертами в области рентгеновской дифракции
- Руководство пользователя по эксплуатации прибора для начинающих и опытных пользователей
- Мастер рекомендует пользователям условия измерения в зависимости от типов образцов
- Операция одним щелчком мыши от измерения к анализу, если определено
- Измерение и анализ 0-, 1- и 2-мерных данных
- Измерения на месте и оперативные измерения поддерживают синхронизацию с внешним устройством
Современный комплексный пакет для рентгеновского анализа порошков
- Унифицированный интерфейс от качественного анализа до определения структуры
- Метод прямой производной (DD) для количественного определения от кристаллических до аморфных образцов
- Цельнопорошковый фитинг (WPPF) на основе фундаментальных параметров (FP)
- Вспомогательные нормы, определенные ASTM, JIS и NIOSH/OSHA для анализа вдыхаемого диоксида кремния и остаточного аустенита
- Прямая идентификация фаз по двумерным данным с использованием информации о размере кристаллитов
Гибридный поиск/сопоставление, улучшающий квалификационный анализ
Гибридный поиск/сопоставление – это идентификация кристаллической фазы, основанная на двух типах измеренных данных: положении пика и форме профиля.
При использовании этого метода точность идентификации фаз резко повысилась. Его также можно использовать для идентификации кристаллических фаз с предпочтительной ориентацией или сильно искаженными решетками.
Удобные операции для анализа Ритвельда
SmartLab Studio II предоставляет удобный интерфейс для анализа Ритвельда, который позволяет пользователям любого уровня опыта без труда загружать параметры кристаллической структуры из базы данных, задавать условия анализа, отображать графические изображения кристаллических структур и количественно оценивать результаты.
Базовый пакет
Высокоскоростной поиск с полностью автоматической подборкой профиля
Просто загрузив данные измерений, SmartLab Studio II выполняет полностью автоматическую подборку профиля для расчета положения пика, полуширины, интегральной интенсивности и размера кристаллитов (с использованием метода Шеррера). ).
Анализ распределения кристаллитов по размерам
Используя метод фундаментальных параметров (метод FP), теоретические формы пиков рассчитываются на основе оптической информации для получения более подробных результатов анализа, таких как распределение кристаллитов по размерам.
Пакет метода DD (дополнительно)
Количественное определение методом DD доступно
Количественное определение может быть выполнено с использованием химического состава и общей пиковой интенсивности каждой кристаллической фазы на основе метода DD. Количественное определение можно использовать для оценки количества неизвестной примеси или аморфной фазы. Кроме того, профиль каждой фазы, если он измерен, может быть использован для количественного определения фаз в смеси.
Пакет количественного анализа (дополнительно)
Упрощенная процедура создания калибровочных кривых
Этот дополнительный пакет количественного анализа поддерживает различные методы калибровки: метод внутреннего стандарта, метод внешнего стандарта, метод добавления стандарта. Пиковая интенсивность может быть извлечена и нанесена на график с помощью программного обеспечения для создания и использования калибровочных кривых. Количественное определение с использованием метода калибровки подходит для количественного определения и управления конкретными кристаллическими фазами.
Пакет качественного анализа (дополнительно)
Гибкий поиск с использованием гибридного поиска/сопоставления
Уникальный «гибридный поиск/сопоставление» от Rigaku использует квалификацию «пик-основание», обнаруживая сильно искаженные решетки, для идентификации фаз твердого раствора, которые обычно трудно обнаружить. идентифицировать. Кроме того, он определяет, существует ли предпочтительная ориентация на основе разделенных интенсивностей пиков, которые не могут быть определены квалификацией на основе профиля.
Комплексный пакет анализа (дополнительно)
Разнообразие анализов
Этот пакет может предоставлять результаты анализа, такие как размер кристаллитов, деформация решетки, уточнение параметров решетки и % кристалличности на основе полностью автоматизированной подгонки профиля, выполняемой при загрузке измеренных данных. Полученная информация помогает понять взаимосвязь между структурой и физическими свойствами и позволяет пользователям сравнивать результаты разных образцов.
Пакет анализа Ритвельда (дополнительно)
Использование результатов фазового идентификационного анализа
Если фаза, входящая в состав пробы, неизвестна, этот пакет выполняет фазовую идентификацию, а затем анализ Ритвельда. Исходные параметры, необходимые для анализа Ритвельда, автоматически оцениваются на основе данных измерений после идентификации фаз. Это упрощает анализ Ритвельда даже для неопытных пользователей.
Использование метода Ритвельда для количественного анализа
Метод Ритвельда позволяет получать количественные результаты непосредственно из результатов измерения исследуемого образца, в отличие от метода калибровочной кривой, который требует добавления стандартного эталонного вещества в образец и построения калибровочной кривой .
Использование метода WPPF для уточнения параметра решетки
Уточнение параметра решетки, выполняемое методом Ритвельда или методом разложения всей порошковой картины (метод Паули), основано не только на измеренных положениях пиков, но также на формах пиков (WPPF метод).
Более точные значения получаются при угловой коррекции, выполняемой с использованием фазы внутреннего стандарта или внешнего стандарта.
Использование метода FP для теоретического расчета профиля пика
Метод фундаментальных параметров (метод FP), который используется для расчета теоретических профилей пиков с учетом используемой оптики и распределения кристаллитов по размерам, показывает отличные результаты для анализа образцов, включающих несколько кристаллических фаз, таких как образцы цемента.
Пакет для определения структуры (дополнительно)
Пакет необходимых функций для анализа неизвестной кристаллической структуры Для определения исходной структуры при анализе неизвестной кристаллической структуры одного метода может быть недостаточно. Эта опция структурного анализа предлагает различные методы анализа: прямой метод и метод прямого пространства с методом имитации отжига с использованием популярного EXPO2014, метод прямого пространства с параллельным алгоритмом отпуска и переворотом заряда.
Использование информации OChemDb для ограничивающих условий
· Расчетное межатомное расстояние или валентный угол с использованием метода уточнения Ритвельда в анализе структуры порошка может отклоняться от разумного значения.
· В пакете определения структуры OChemDb доступен для установки параметров ограничений для уточнения Ритвельда. Это позволяет выполнять уточнение по Ритвельду даже с неизвестной кристаллической структурой, сохраняя разумную структуру.
Программное обеспечение для анализа отражательной способности рентгеновских лучей для широкого спектра применений, от простого анализа толщины пленки до детального анализа многослойной структуры
- Индикатор потока направляет пользователя и предоставляет необходимые этапы анализа для выполнения
- Анализ колебаний помогает моделировать структуру образца
- Профиль плотности графически отображается по всей толщине образца
- Сегментированные диапазоны измерения максимизируют динамический диапазон данных
- Одновременная аппроксимация более чем двух наборов данных, измеренных с разным разрешением, для извлечения одной структуры образца, которая включает в себя в значительной степени разную толщину
Плагин отражательной способности предназначен для анализа данных измерения отражательной способности рентгеновских лучей.
Он позволяет анализировать толщину слоя, плотность и шероховатость поверхности/интерфейса различных многослойных тонких пленок. Используя интерфейс панели потока, общий для других плагинов, даже новичок, незнакомый с процедурой анализа отражательной способности, может выполнить анализ данных на профессиональном уровне, следуя заданному потоку.
При анализе отражательной способности с использованием обычных нелинейных методов наименьших квадратов в качестве решения может быть получен локальный минимум. В этом случае окончательное решение меняется в зависимости от модели исходного анализа или от мастерства оператора. Плагин отражательной способности выполняет анализ независимо от исходных моделей или операторов, используя новейший алгоритм подгонки, который автоматически ищет множество решений.
Последний алгоритм настройки
Использование генетического алгоритма, адаптированного для анализа отражательной способности, для поиска истинного решения (глобальный минимум) сводит к минимуму зависимость от оператора.
Кроме того, использование алгоритма помогает найти решение даже в том случае, когда исходная модель сильно отличается от конечного решения.
Алгоритм двойного подбора
Для более точного анализа плагин включает алгоритм двойного подбора (генетический алгоритм и метод наименьших квадратов). После нахождения глобального минимума с помощью генетического алгоритма для дальнейшего точного анализа аппроксимации используется метод наименьших квадратов. При анализе точность можно повысить, установив верхний и нижний пределы параметров структуры пленки и наложив различные ограничения на параметры.
Расширенный анализ толщины пленки Фурье
Расширенный анализ толщины пленки Фурье дает приблизительную информацию о толщине пленки без проведения анализа подгонки. Кроме того, применяя полученные грубые данные о толщине пленки к подгоночной модели, можно создать исходную модель в виде, близком к конечному решению, что может сократить время анализа.
Различные функции моделирования
Программное обеспечение позволяет задавать как градиент плотности в одиночном слое, так и градиенты плотности и толщины пленки для сверхрешетчатой структуры. Их можно применять для анализа сложной структуры, такой как поверхностная диффузия или неоднородные многослойные пленки.
Более точный анализ можно выполнить, настроив модель рентгеновской оптической системы, используемой для измерения, с учетом разрешения системы при анализе подгонки. Параметры образца, полученные в результате анализа, можно сохранить для использования в последующих анализах. Таким образом можно без проблем начать анализ сложной структуры пленки.
Встроенная карта обратной решетки и плагин кривой качания с высоким разрешением для анализа эпитаксиальных пленок
- Подгонка динамического моделирования на данных XRD высокого разрешения (HRXRD) и анализ картирования обратного пространства высокого разрешения (RSM)
- Поддержка всех 230 пространственных групп кристаллических структур
- Релаксация напряжения и анализ композиции из асимметричного RSM
- Индексация по измеренному RSM
- Параметры решетки и расчет деформации из RSM
Этот плагин позволяет выполнять как карту обратной решетки, так и анализ кривой качания с высоким разрешением в одном модуле плагина.
Предназначен для современных материалов
Этот плагин поддерживает анализ эпитаксиального роста с анизотропией в плоскости поверхности подложки. Использование «параметров привязки», которые задают ориентацию в двух направлениях плоскости поверхности образца, позволяет пользователям анализировать анизотропную упругую деформацию эпитаксиальных пленок при плоскостных анизотропных растяжениях. Этот метод можно применять к передовым материалам, таким как эпитаксиальные пленки, нанесенные на кремниевую (110 ) подложку или сапфировую подложку с а- и m-плоскостями.
Расширенные функции поиска и отображения пиков
Функции, часто используемые для анализа данных карты обратной решетки, были упрощены.
Одним щелчком мыши можно переключить отображение координат гониометра или координат пространства обратной решетки в данных картирования обратного пространства и активировать расширенную функцию поиска пиков, которую также можно применять к данным двумерной дифракции, чтобы простым способом получить точные координаты точек обратной решетки. . Результаты измерений можно легко интерпретировать с помощью функции, которая накладывает результат моделирования, полученный для модели образца, на данные измерений.
Подходит для различных моделей пленочной структуры
Структурные модели образцов со сложной многослойной пленочной структурой можно плавно создавать с помощью функции межслойной связи параметров или функции моделирования сверхрешетки. Параметры для описания состояния деформации могут быть выбраны из релаксации, деформации и рассогласования решеток в двух направлениях внутри плоскости. Добавлены функции для установки отклонения ориентации (наклона и поворота) многослойных пленок и оценки мозаичности.
Функция одновременной установки нескольких данных
Была установлена функция для подгонки данных нескольких измерений с разными показателями отражения к модели структуры пленки. Управлять условиями и результатами анализа легко, поскольку данные измерений и модель структуры пленки, используемые для анализа, сохраняются как один проект.
Точный и быстрый анализ подгонки
В качестве алгоритмов подбора используются генетический алгоритм и метод наименьших квадратов. Надлежащая установка ограничений и верхних и нижних пределов может предотвратить расхождение значений при одновременной подгонке многих параметров для получения стабильных результатов анализа.
Путем включения четырехволнового приближения и теорий рекурсивных матриц в теоретический анализ профиля можно более точно воспроизвести измерение с малым углом падения и деформированное состояние эпитаксиальной тонкой пленки, такое как полная релаксация, частичная деформация и общая деформация.
Пошаговые инструкции на полосе потока позволяют легко рассчитать карту распределения ориентаций кристаллов
- Представление полюсной фигуры и анализ функции распределения ориентаций (ODF)
- Представление и анализ полных полюсных фигур, полученных из измерений передачи и отражения
- Анализ предпочтительного направления ориентации (hkl)[uvw] и его объемной доли
- Расчет обратной полюсной фигуры
- Функции ориентации Кернса и Германа для количественного анализа
Создание и отображение полюсных фигур
Плагин текстуры предназначен для анализа ODF (функции распределения ориентации) на основе данных полюсных фигур, измеренных с помощью 0D или 2D детекторов. Плагин поддерживает коррекцию расфокусировки и коррекцию поглощения полюсных фигур. Кроме того, плагин включает в себя такие функции, как сглаживание, вращение и повторная сетка полюсных фигур. Также доступны измеренные 2D-данные, 2D-данные дифракции, коррекция поляризации и коррекция поглощения.
Полюсные фигуры могут отображаться в различных форматах.
Расчет ODF (дополнительно) Доступны два метода расчета ODF: WIMV и метод компонентного приближенного анализа. Оба метода подходят для расчета карты распределения ориентаций кристаллов и пересчета всей полюсной фигуры, соответствующей произвольному индексу. Одним из алгоритмов оптимизации для аппроксимации компонентов является генетический алгоритм. При использовании этого алгоритма нет необходимости заранее сопоставлять параметры с измеренной полюсной фигурой.
Также можно построить обратную полюсную фигуру, используя полученную карту распределения ориентаций кристаллов.
Расчет функции ориентации
Функция ориентации может быть рассчитана путем соединения полюсных фигур передачи и отражения или общих полюсных фигур, пересчитанных с помощью анализа ODF. «Информацию», содержащуюся в полюсной фигуре, можно сравнивать и использовать как «ценности», представляющие степень ориентации.
Различия в физических свойствах и характеристиках из-за различий в методах производства можно оценить посредством связи с функцией ориентации, полученной из полюсных фигур.
Плагин Stress для различных целей от QC до R&D
- Поддерживаются методы Sin2ψ, 2D-stress и Multiple HKL
- Анализ остаточных напряжений от объемных до тонкопленочных образцов
- Анализ основных и трехосных остаточных напряжений с использованием двумерного метода
- Тензор жесткости или модуль Юнга и коэффициент Пуассона для расчета
Анализ остаточных напряжений.
В плагине напряжения можно количественно оценить остаточное напряжение поликристаллического материала с помощью данных рентгеновской дифракции. В дополнение к обычному анализу напряжений методом sin²ψ, тензор напряжений и главное напряжение могут быть также проанализированы в предположении плоского напряженного состояния: σ₁₁, σ₂₂ и σ₁₂ или трехосного напряженного состояния: σ₁₁, σ₂₂, σ₃₃, σ₁₂ , σ₂₃ и σ₁₃.
Метод множественного hkl, эффективный для анализа напряжения тонкой пленки, также доступен в этом плагине напряжения. Остаточное напряжение тонкой пленки можно анализировать с помощью разнонаправленных деформаций в разных плоскостях дифракции, предполагая состояние плоского напряжения. В функции обработки данных могут быть загружены все данные из режимов 0D, 1D и 2D, а обработка данных, такая как сегментация данных 2D-дифракции, сглаживание, устранение фона, коррекция LPA, устранение Ka₂, поиск положения пика и подбор профиля легко сделать.
Кроме того, угол дифракции в недеформированном состоянии (2θ₀) и упругие константы рентгеновского излучения (E, ν, K, S1 и 1/2 S₂) можно рассчитать, используя обширную базу данных материалов. Модель взаимодействия зерен, используемая для расчета упругой константы рентгеновского излучения, может быть произвольно выбрана из четырех моделей: 1) модель Рейсса: напряжение между зернами постоянно, 2) модель Фойгта: деформация между зернами постоянна, 3 ) модель Неерфельда-Хилла: среднее арифметическое между Ройссом и Фойгтом, и 4) модель Крёнера: в поликристаллической матрице существует большое количество сферических зерен монокристалла, обладающих упругой анизотропией.
Наконец, очень гибкий подключаемый модуль стресса позволяет выполнять различные анализы стресса в соответствии с широким спектром целей, от контроля качества до исследований и разработок.
Определение распределения размера частиц/пор в диапазоне от нано- до субмикронного порядка
- Анализ размера и распределения частиц по данным 1-D или 2-D SAXS
- Распределение размеров, среднее, процентили D10, D50, D90 рассчитываются
- Проба, не пропускающая видимый свет, может быть проанализирована
- Анализ на образце с множественным распределением частиц по размерам
Анализ размера частиц/пор
Анализ размера частиц/пор определяет распределение частиц/пор по размерам в порошковых, объемных, пленочных образцах и жидкости. Как правило, для анализа доступны частицы/поры размером от 1 до 100 нм. Используя оптику сверхмалого углового рассеяния рентгеновских лучей (U-SAXS), пользователи могут анализировать частицы/поры размером 1000 нм.
Можно анализировать такие формы частиц/пор, как сфера, ядро-оболочка, цилиндр и сфероид. В плагине также есть модель Дебая, которая выполняет анализ без указания формы. В случае частиц высокой плотности учитывается структурный фактор для более точного расчета распределения по размерам.
Более точный анализ распределения размера частиц/пор в тонких пленках
Распределение частиц/пор по размерам в тонкопленочном образце можно проанализировать более точно, учитывая рассеяние от шероховатости поверхности или границы раздела тонкой пленки. Этот метод особенно полезен, когда количество частиц/пор невелико или их размеры малы. Для подключаемого модуля измерения XRD доступна «Активность детали» для сбора необходимых данных для этого анализа. Используя Part Activity, плагин может легко собирать данные с вводом некоторой информации об образцах.
Моделирование решетки и график Гинье/Кратки
В дополнение к анализу распределения частиц/пор по размерам с использованием метода наименьших квадратов можно выполнить моделирование положения дифракционных линий от одномерных или двумерных решеток с использованием простого метода.
Кроме того, радиус инерции можно рассчитать с помощью простой процедуры с использованием графика Гинье.
Коррекция щелей
На данные малоуглового рассеяния значительное влияние оказывает эффект зонтика; поэтому полученная картина интенсивности рассеяния сильно искажена. «Коррекция щели» объясняет это искажение. Плагин MRSAXS точно воспроизводит картину интенсивности рассеяния с использованием оригинального алгоритма Rigaku и выполняет более точный анализ распределения размеров.
Вклад в анализ аморфного материала
- Расчет структурной функции S(Q) и парной функции распределения (PDF)
- Наложение рассчитанных атомных расстояний из кристаллической структуры на данные PDF
- Расчет PDF на основе нескольких данных, измеренных различными энергиями рентгеновского излучения
- Разумные профили S(Q) и PDF с коррекцией пульсаций
- Экспорт профиля PDF в программное обеспечение PDFgui и RMCProfile
Расчет RDF и PDF
Плагин PDF может вычислять RDF (радиальную функцию распределения) и PDF (парную функцию распределения) с преобразованием Фурье S (Q) (фактор структуры).
Для получения S(Q) из измеренной рентгенограммы извлекается интенсивность рассеяния только образца с учетом поглощения образца и его контейнера (ячейки), а затем поправки на комптоновское рассеяние выполняется до извлеченной интенсивности.
Коррекция с использованием ближней области PDF (Коррекция ряби)
В PDF, полученном преобразованием Фурье S(Q), пики могут появляться на расстоянии меньшем, чем ближайшее межатомное расстояние. Плагин PDF имеет коррекцию S(Q), которая рационально удаляет неестественные пики из PDF, принимая во внимание ближайшее межатомное расстояние и пики более короткого расстояния. Это позволяет пользователям исследовать расположение атомов в аморфных материалах, сравнивая межатомное расстояние на основе кристаллических структур с PDF, не беспокоясь о неестественных пиках.
Сверхэффективный массовый анализ данных
- Анализ и отображение нескольких данных
- Диаграмма водопада одномерных данных
- Слайд-шоу 2D и 1D данных
- Обработка и представление данных in-situ и operando
- Температура в сравнении с XRD, профиль дифференциальной сканирующей калориметрии (DSC) в сравнении с представлением данных XRD
- Импорт и связывание данных с внешнего устройства, например.
потенциометр с данными XRD - Анализ данных пространственного картографирования и представление, наложенное на образец моментального снимка
- Извлечение данных из выбранной точки или области данных пространственного картографирования
- Синхронизация с подключаемыми модулями программного обеспечения для анализа, например. PowderXRD, Stress, XRR и HRXRD для анализа нескольких данных
- Отображение результатов анализа с помощью подключаемого модуля программного обеспечения для анализа, например. фаза, напряжение, толщина вместе с данными пространственного картирования и снимком образца изображения
- Статистический расчет результатов анализа с помощью подключаемого модуля аналитического программного обеспечения по нанесенной на карту области
потенциометр с данными XRD Высокоскоростные детекторы позволяют собирать большие объемы данных за короткое время. Плагин визуализации данных эффективно обрабатывает тысячи наборов данных, собранных в ходе оперативных измерений, таких как измерения с регулируемой температурой, и отображает результаты в простом для понимания виде.
Сопоставление XY
Используя операцию Part Activity для измерения сопоставления XY в подключаемом модуле измерения XRD, вы можете выполнить измерение сопоставления XY с помощью простых настроек. Положение измерения (координаты XY) записывается для каждой точки отсчета, поэтому физическую величину, полученную в результате измерения XRD, можно легко нанести на карту и отобразить на изображении образца. Физические величины, которые могут быть нанесены на карту, включают информацию о пике (положение, полуширина, высота, интегральная интенсивность и т. д.), массовое соотношение кристаллической фазы (результаты количественного анализа), размер кристаллитов и результаты анализа напряжения с использованием метода sin2ψ.
Синхронизация начала измерения и функция чтения текста
Даже приложения, не поддерживаемые этим программным обеспечением, могут быть синхронизированы с цифровыми сигналами для выполнения рентгеновских измерений. Плагин визуализации данных может считывать текстовый файл зависимости времени от физических величин, выводимых внешним приложением, и отображать его так же, как измерение операндо.
Измерение Operando
Измерение дифракции рентгеновских лучей можно выполнять при изменении температуры и влажности, и вы можете легко увидеть, как при этом меняется картина дифракции рентгеновских лучей. В левой части окна отображается график температуры и влажности, а в правой – рентгенограмма. Когда вы выбираете (щелкаете) определенную температуру или влажность на графике слева, справа отображается рентгенограмма при этой температуре или влажности. Также можно отобразить слайд-шоу, что позволяет легко визуально уловить изменения в картине дифракции рентгеновских лучей.
Кластерный анализ
Категоризация и извлечение больших объемов данных
Дендрограмма и анализ главных компонент
Модуль кластерного анализа SmartLab Studio II предназначен для выполнения кластеризации независимо от типа данных и размерности (категоризация данных на основе степени сходство). Кластеризованные данные отображаются в виде дендрограммы. Количество кластеров свободно варьируется простым изменением порога степени подобия.
Корреляции между похожими данными четко отображаются в представлении PCA.
Извлечение данных, аналогичных эталонным данным
SmartLab Studio II имеет функцию извлечения данных. Если предварительно установить справочные данные, данные, аналогичные справочным данным, будут извлечены из указанной папки. Эта функция полезна для поиска ранее собранных данных.
Удобный инструмент для одновременного измерения XRD-DSC
- Представление профилей дифференциальной сканирующей калориметрии (DSC) и XRD в зависимости от времени и температуры
- Анализ профиля ДСК, т.е. начальная температура экзо- и эндотермических реакций, поглощенная и высвобожденная энергия
- Визуализация кристаллографического изменения фазы в зависимости от времени
Отображение данных XRD-DSC
Подключаемый модуль XRD Measurement способен отображать данные XRD-DSC, но подключаемый модуль XRD-DSC имеет более продвинутые функции, такие как изменение диапазона температур или прореживание данных для отображения графиков.
Связывание данных XRD и диаграммы ДСК
Этот подключаемый модуль может одновременно визуализировать взаимосвязь между изменениями в картине дифракции рентгеновских лучей и тепловыми изменениями в измерении ДСК. Этот плагин предназначен для одновременного представления графика дифракционной картины или интенсивности рентгеновского излучения и диаграммы ДСК, что позволяет пользователям определять изменения в кристаллической структуре материала.
Анализ DSC
Плагин XRD-DSC включает функцию автоматического анализа диаграммы DSC, которая не была доступна в более ранних версиях программного обеспечения Rigaku. Эта функция облегчает оценку точки плавления и точки фазового перехода, а также эндотермическую/экзотермическую калориметрию растворения, затвердевания и т. д. от измерения до анализа данных всего за три клика
EasyX — это подключаемый модуль измерения для скрининга/контроля качества, разработанный для упрощения измерения, автоматического анализа и отображения результатов анализа, а также оценки соответствия/несоответствия.
Функция построения графика трендов позволяет визуализировать результаты и ощутимые изменения состояния устройства.
От измерения к анализу всего за три щелчка
От измерения к анализу можно перейти всего за три щелчка. Даже те, кто не знаком с анализом, могут использовать его с уверенностью или страхом совершить ошибку.
Автоматизация расширенного анализа в сочетании с подключаемым модулем Powder XRD
Можно использовать шаблон анализа, созданный подключаемым модулем Powder.
Автоматизируйте каждый этап анализа, например уточнение по Ритвельду (постоянная решетки, количественный анализ и т. д.), анализ размера кристаллитов, анализ кристалличности, интенсивность пиков (соотношение).
Отображение результатов анализа и решение о приеме или отклонении
Списки результатов каждого анализа могут отображаться вместе с оценкой «годен/не годен».
Пользователи могут с первого взгляда понять различия в значениях и принять или отклонить результаты.
Включить контроль полномочий пользователя
Администратор может ограничить доступные функции для каждого пользователя с помощью настройки полномочий пользователя.
Например, разрешить только отображение результатов измерения и анализа с правами оператора. Оптимальные условия могут быть установлены в соответствии с уровнями пользователей.
Визуализация изменения временного ряда с помощью графика тренда
Состояние аппарата и результаты анализа изменения временного ряда могут быть подтверждены графиком тренда в режиме реального времени.
СмартЛаб
В этом году исполняется 85 лет, когда мы помогаем участникам процветать! Мы отмечаем эту замечательную веху, отмечая вас, наших участников, за вклад в наш успех все эти годы. Кредитный союз сотрудников Lockheed Aircraft был учрежден двенадцатью сотрудниками Lockheed в 1937, как раз в тот момент, когда страна выбиралась из Великой депрессии. |
Наши члены — тогда все сотрудники Lockheed — нашли безопасность, финансовую ценность и отличное обслуживание в последующие годы, и это остается верным 85 лет спустя.Читать далее
Чтобы понять, как ставка по федеральным фондам или «ставка по федеральным фондам» влияет на банки и кредитные союзы, нам сначала нужно понять, что такое ставка по федеральным фондам и ее роль в финансовом мире. Федеральное правительство требует, чтобы все депозитные учреждения, такие как банки и кредитные союзы, имели минимальный уровень резервов, пропорциональный их депозитам. Те, у кого недостаточно резервов, берут кредиты у других финансовых учреждений, у которых они есть. Ставка ФРС — это процентная ставка, которую банки взимают, когда кредитуют друг друга из своего резервного баланса.
Читать далее
В связи с ростом числа случаев мошенничества с банкоматами в последние годы чрезвычайно важно сохранять бдительность и защищать себя при использовании банкомата.
Мошенничество с банкоматами происходит, когда преступники крадут информацию о карте через банкомат и используют эту информацию для несанкционированных покупок или снятия средств. Обычно они используют оборудование, установленное в банкоматах, или беспроводные датчики для сбора информации и создания дубликатов карт. Даже без физической карты украденные данные можно использовать для оплаты покупок или снятия средств со счета.
Читать далее
Информация по этой теме актуальна на 15.08.2022. Для получения самой последней информации посетите веб-сайт Калифорнийского налогового совета по франшизе.
Более 20 миллионов калифорнийцев могут ожидать, что в этом году на их банковские счета поступят новые прямые платежи, заявил губернатор Гэвин Ньюсом. Штат выплачивает до 1050 долларов в рамках того, что губернатор назвал новым «возвратом налога для среднего класса». Прямые выплаты являются частью пакета мер по снижению инфляции.